判別光譜儀的好壞，有個(gè)非常簡(jiǎn)單的方法。就是用光譜標(biāo)樣，在不同的光譜儀上連續(xù)打10個(gè)點(diǎn)，看它的極差或者RSD。這類數(shù)據(jù)，就叫做短期穩(wěn)定性，簡(jiǎn)稱短穩(wěn)。該數(shù)值越，說(shuō)明光譜儀短穩(wěn)越好。因?yàn)楣庾V儀的構(gòu)造和原理，各家都一樣。都是鎢電極對(duì)金屬樣品進(jìn)行火花放電，產(chǎn)生復(fù)合光譜，經(jīng)過(guò)透鏡進(jìn)入分光室，通過(guò)帕邢隴格裝置得到需要的特征光譜線，再由PMT或者CCD、CMOS把光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，進(jìn)行數(shù)學(xué)處理。終在屏幕上顯示的就是元素含量或者光強(qiáng)。

　　無(wú)論各個(gè)品牌宣講所謂的CCS技術(shù)、PDA技術(shù)、ICAL技術(shù)，終都是要體現(xiàn)在數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度的。

　　我敢說(shuō)，現(xiàn)在所有品牌光譜儀的技術(shù)協(xié)議，或者光譜儀招標(biāo)文件，其中重要的部分就是精密度數(shù)據(jù)，也就是短穩(wěn)指標(biāo)。而且都引用國(guó)標(biāo)，比如GB/T4336-2016，不要說(shuō)國(guó)標(biāo)太寬泛啦，很容易達(dá)到的。我請(qǐng)問(wèn)，碳鋼中0.1%C，10次的極差0.0038%，寬泛?jiǎn)幔?/div>